Usando o Algoritmo de Berlekamp-Massey em Testes de Circuitos Integrados

A principal contribuição deste trabalho é a introdução do Algoritmo de Berlekamp-Massey (BMA) na área de testes de circuitos integrados. Embora o BMA tenha sido inicialmente proposto para a localização de erros em sistemas de comunicações, de fato, esse provê uma solução geral para a sı́ntese do mais curto registrador de deslocamento com realimentação linear (LFSR) capaz de gerar uma dada seqüência finita. Neste trabalho, mostra-se que com uma ligeira modificação no BMA, pode-se projetar um esquema de teste de circuitos integrados baseado totalmente em um único LFSR como gerador de testes no qual é capaz de obter cobertura de falha total e tendo tanto consumo de área de silı́cio como tempo de teste reduzido.